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Super+ X-Ray面密度测量仪

产品详情

应用场合

正极极片面密度测量,搭载首款固体探测器,支持高速测量扫描,支持削薄区、划痕、绝缘层等微小特征测量,有容量判定功能。


光斑大小与极片测量应用的天然矛盾

示例一:6*18mm光斑测量磷酸铁锂材料的毫米数据。多趟的重复性良好,局部波动高达13mg对于调节模头来说,增大光斑可以减小部分极片带来的噪音。


示例2:6mm与1mm宽度的光斑测量边缘轮廓的数据对比, 1mm优于6mm。


从实际生产过程中发现,一种光斑很难满足各种测量需求:光斑缩小提高空间分辨力,适用削薄区等极片微小特征测量;光斑变大减少了空间分辨力,适用极片趋势计算、模头调节、主体区域品质把控等。



容量损失测量功能

利用<1mm宽度光斑测量极片的轮廓,削薄导致的容量损失为1.4%


技术参数

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